分布假設(shè)的選擇
在選擇試驗方案時,無論選擇定時截尾試驗方案、定數(shù)截尾試驗方案或概率比序貫試驗 方案中的哪一種,首先應(yīng)假設(shè)設(shè)備的失效隨時間的分布規(guī)律是服從什么樣的分布規(guī)律。一般 應(yīng)考慮選擇下列的分布形式。
指數(shù)式分布:在失效率是一個常數(shù)時使用。就許多設(shè)備來說,早期失效區(qū)(失效率下降) 之后和耗損失效區(qū)(失效率上升)之前有一個偶然失效區(qū),設(shè)備在這個區(qū)域工作時,失效率 是一個常數(shù)。一般情況下,設(shè)備在經(jīng)過一段時間的使用、維修保養(yǎng)之后,性能比較穩(wěn)定,在 一個相當(dāng)長的時間內(nèi)失效率是恒定的。
威布爾分布:在失效率是增長的或下降的時期使用。復(fù)雜設(shè)備的失效率可以是下降的, 然而,具有耗損機(jī)理的設(shè)備和不可修復(fù)的貯存單元比重比較大的設(shè)備的失效率卻是增長的。 因此,威布爾分布在很多場合下應(yīng)用是有的。然而就統(tǒng)計程序來說,這種分布不如指數(shù)分布 和正態(tài)分布應(yīng)用那么廣泛。
正態(tài)分布:當(dāng)失效率是增長的,而且失效隨時間的分布規(guī)律近似于高斯分布時使用。盡 管經(jīng)過適當(dāng)?shù)剡x擇參數(shù),可以用威布爾分布近似地代替正態(tài)分布。然而,還是采用正態(tài)分布 要比威布爾分布*痹多,因為在瘕設(shè)正態(tài)分布的基礎(chǔ)上很多統(tǒng)計方法都可以利用。
對于電子設(shè)備來說,根據(jù)國內(nèi)外大量的實踐經(jīng)驗證明;一般電子設(shè)備通過老嫌措施或經(jīng) 過一段使用期后,基本上是服從指數(shù)分布的。因此,本書介紹的甙驗方案的設(shè)計方法,推薦 的標(biāo)準(zhǔn)型試驗方案,以及設(shè)備可靠性試驗驗證值的計算方法,都是基于失效隨時間的分布規(guī) 律服從指數(shù)分布這一假設(shè)的。就是認(rèn)為設(shè)備在搞然失效區(qū)工作,設(shè)備可靠度函數(shù)是指數(shù)律 的。如果不是假詼它服從指數(shù)分布,試驗方案的設(shè)計方法,判決標(biāo)準(zhǔn)及所需求的試驗時間, 以及試驗的觀rBF值的計算方法,也都不一樣了。關(guān)于非指數(shù)分布的試驗方桊的設(shè)計及驗 證值的計算方法等,目前電工委員會的有些工作組及我國的有關(guān)部門正在研制中。