恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于測(cè)試電子產(chǎn)品、材料、電氣工程、儀器儀表等產(chǎn)品在高低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)。那么為什么電子產(chǎn)品需要在恒溫恒濕的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試呢?你知道恒溫恒濕試驗(yàn)箱的各種標(biāo)準(zhǔn)和應(yīng)用方向嗎?如果你不知道,就看看下面的細(xì)節(jié),
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的飛速發(fā)展,電子電氣產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域越來越廣泛,所處的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只要合理調(diào)節(jié)產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)保措施,就可以保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過程中的安全可靠。因此,電子電器產(chǎn)品的人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證生產(chǎn)、運(yùn)輸和使用過程中安全可靠的重要保障。電子電器產(chǎn)品出廠前的模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證產(chǎn)品質(zhì)量 的重要環(huán)節(jié)。環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法和試驗(yàn)設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)至關(guān)重要。
恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱:
溫濕度試驗(yàn)箱符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)Test A:低溫試驗(yàn)法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)Test B:高溫試驗(yàn)方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F) 高溫壽命試驗(yàn)。
GB150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
gjb150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
在選擇恒溫恒濕試驗(yàn)箱時(shí),必須綜合考慮多種因素。以下是一些小經(jīng)驗(yàn),希望對(duì)大家有所幫助。恒溫恒濕試驗(yàn)箱可分為“臺(tái)式"和“立式"兩種。主要區(qū)別在于所能達(dá)到的溫度和濕度不同,產(chǎn)生的溫度也會(huì)不同。立式可用于低溫和常溫干燥。 , 臺(tái)式可以在常溫下做低溫高濕。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于兩個(gè)方面:
1.制藥行業(yè)(主要用于穩(wěn)定性測(cè)試)
2.電子工業(yè)(主要是模擬環(huán)境測(cè)試)
在電氣、電子、航天、航空、儀器儀表等行業(yè),恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱廣泛用于評(píng)價(jià)材料和零部件設(shè)備在一定環(huán)境條件下的性能。對(duì)各種產(chǎn)品和材料進(jìn)行耐熱、耐寒、耐高溫、耐濕試驗(yàn)。適用于電子、光電元件、電器、食品、汽車、金屬、化工、建材等工廠和科研單位。